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		<title>Ellipsometrie on Industrial Quartz Heating Systems</title>
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				<title>Ellipsometrie Wafer Probheizer</title>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://industrial-qz-heater.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png&#34; alt=&#34;Ellipsometrie Wafer Probheizer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;In der Fertigungshalle ist die Genauigkeit der Ellipsometriedaten nur dann relevant, wie hoch die Temperatur der Sonde ist. Eine Abweichung von 1°C während des Weichbrennens oder Hartbrennens führt zu Veränderungen in der Dicke des Fotolacks sowie im CD-Wert. Dadurch kann das Wafer aus dem &lt;a href=&#34;https://o-yate.net&#34;&gt;Prozess&lt;/a&gt; ausgeschlossen werden. Wir haben einen Heizer für die Ellipsometriesonde entwickelt, der eine Genauigkeit von ±0,1°C gewährleistet – so &lt;a href=&#34;https://henruite.com&#34;&gt;bleibt&lt;/a&gt; die Homogenität auf dem Wafer auf diesem Niveau und die Messwerte spiegeln den tatsä&lt;a href=&#34;https://o-yate.com&#34;&gt;chlichen&lt;/a&gt; Prozesszustand wider, nicht die Temperaturschwankungen.&lt;/p&gt;</description>
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