<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Пробник on Industrial Quartz Heating Systems</title>
		<link>http://industrial-qz-heater.com/ru/tags/%D0%BF%D1%80%D0%BE%D0%B1%D0%BD%D0%B8%D0%BA/</link>
		<description>Recent content in Пробник on Industrial Quartz Heating Systems</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ru</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Fri, 03 Jul 2026 02:36:54 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://industrial-qz-heater.com/ru/tags/%D0%BF%D1%80%D0%BE%D0%B1%D0%BD%D0%B8%D0%BA/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Нагреватель для зонда эллипсометрии на пластине</title>
				<link>http://industrial-qz-heater.com/ru/posts/ellipsometry-wafer-probe-heater/</link>
				<pubDate>Fri, 03 Jul 2026 02:36:54 +0800</pubDate>
				<guid>http://industrial-qz-heater.com/ru/posts/ellipsometry-wafer-probe-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://industrial-qz-heater.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png&#34; alt=&#34;Нагреватель для зонда эллипсометрии на пластине&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;На производственном полу данные, получаемые с помощью эллипсометрии, имеют ценность только в той мере, в какой соответствует температура пробки. Изменение температуры на 1°C во время процессов мягкой или жесткой обработки может привести к изменению толщины фоторезиста и его коэффициента CD. Это, в свою очередь, может привести к сбоям в работе пластины. Мы разработали специальный нагреватель для пробок эллипсометра, который обеспечивает точность до ±0,1°C; таким образом, показания прибора отражают состояние самой пластинки, а не колебания температуры.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
