웨이퍼 손상 테스트용 가열 램프

제조 현장에서는, 열원의 위치가 불안정하다면 ‘버닝인’ 과정도 아무런 의미가 없습니다. 척의 위치가 몇 도만 틀어져도, 성능이 불량한 칩들이 생기거나, 양질의 칩들이 폐기되게 됩니다. 우리는 이러한 변동성을 해결하기 위해 이러한 버닝인 램프를 개발했습니다. 핵심은 무...